射線探傷儀這里緊張介紹的是，現(xiàn)在應(yīng)用多的議決反射法，來獲取物體內(nèi)部特性信息的要領(lǐng)。 反射法是基于超聲，在議決差異聲阻抗構(gòu)造界面時(shí)，會(huì)產(chǎn)生較強(qiáng)反射的原理事情的

正如我們所知道，聲波在從一種介質(zhì)流傳到別的一種介質(zhì)的時(shí)間，在兩者之間的界面處會(huì)產(chǎn)生反射，而且介質(zhì)之間的差異越大反射就會(huì)越大，以是我們可以對(duì)一個(gè)物體發(fā)射出穿透力強(qiáng)、可以大概直線流傳的超聲波。

射線探傷儀然后對(duì)反射返，來轉(zhuǎn)頭的超聲波舉行，汲取并根據(jù)這些反射返來轉(zhuǎn)頭的超聲波的先后、幅度等環(huán)境就可以果斷出這個(gè)構(gòu)造中，含有的種種介質(zhì)的大小、散布情況以及種種介質(zhì)之間的，比擬差異程度等信息（此中反射返來轉(zhuǎn)頭的超聲波的先后可以反應(yīng)出反射界面離探測(cè)外貌的距離，幅度則可以反應(yīng)出介質(zhì)的大小、 比擬差異程度等特性），超聲波探傷儀從而果斷出該被測(cè)物體是否有非常。

丹東探傷機(jī)靈敏度低的主要原因：

一、主要原因(一)發(fā)射電路部分

1.電源電壓E過低。

2.閘流管或可控硅導(dǎo)電時(shí)，內(nèi)阻太大。

3.觸發(fā)波重復(fù)頻率太高或閘流管(可控硅)的負(fù)載電阻R太大，使發(fā)射電路中電容C不能充電至電源電壓E。

4.電容C漏電。

5.諧振式發(fā)射電路中，諧振頻率與探頭的自然頻率偏離太大。

(二)接收電路部分

1.電子管或晶體管衰老。

2.電子管或晶體管工作點(diǎn)(偏流或偏壓)不在正確點(diǎn)。

3.電源電壓低(濾波電容漏電)。

4.調(diào)諧回路調(diào)亂，放大頻率與發(fā)射頻率不一致。

(三)探頭部分

1.晶片的靈敏度低(發(fā)射及接收的靈敏度的乘積低)。

2.晶片的自然頻率與發(fā)射頻率或放大頻率不一致。

3.晶片的銀層脫落。

4.保護(hù)膜片磨損。

5.保護(hù)膜片與晶片之間的油層流失(有的探頭保護(hù)膜與晶片直接粘合)。

6.吸收塊阻尼太大。

7.晶片的阻抗與探頭引線的阻抗不匹配(如用低阻抗的電纜線連接高阻抗的石英晶片)。

8.探頭在超過其居里溫度的高溫工作物上探測(cè)效率降低。

9.探頭線及插頭座接觸不良。

(四)示波管部分

1.偏轉(zhuǎn)靈敏度低。

2.加速極電壓過高。