X射線安檢設(shè)備是如何“透視”的？

X射線與不同物質(zhì)發(fā)生相互作用，主要有光電效應(yīng)，瑞利散射，康普頓效應(yīng)和電子對(duì)效應(yīng)。射線遇到物體后，或透過、或被吸收、或被散射。通過檢測(cè)這些不同的信號(hào)就能判斷物體的形態(tài)和成分。

早期的安檢設(shè)備是采用單個(gè)移動(dòng)式X射線探傷機(jī)發(fā)射源，圖像處理也比較單一，還是黑白影像。早期安檢設(shè)備的比較大缺點(diǎn)，是由于Ｘ射線的衰減與被測(cè)物質(zhì)的密度、厚度和平均原子序數(shù)都有關(guān)系，當(dāng)多重因素疊加影響時(shí)就很難判斷了。

而現(xiàn)在的安檢設(shè)備已經(jīng)采用多個(gè)發(fā)射源進(jìn)行多視角的立體成像，而且圖像處理也能彩色顯示。這主要是由于雙能系統(tǒng)的不斷開發(fā)升級(jí)。

雙能系統(tǒng)一般由一個(gè)連續(xù)能譜的Ｘ射線源及一套能夠分別接收高低能數(shù)據(jù)的探測(cè)器系統(tǒng)組成。在雙能系統(tǒng)中，高能和低能在同一種物質(zhì)中的衰減程度是不一樣的，通過對(duì)高能和低能不同衰減系數(shù)的運(yùn)算和比較，就可將不同種類、不同厚度的物質(zhì)有效地區(qū)分開來。再配合上后期圖像信號(hào)處理，就能很明顯反映出物體的成分和結(jié)構(gòu)。

聲明：本文僅供交流學(xué)習(xí)，版權(quán)歸屬原作者，部分文章推送時(shí)未能及時(shí)與原作者取得聯(lián)系，若來源標(biāo)注錯(cuò)誤或侵犯到您的權(quán)益，煩請(qǐng)告知，我們將立即刪除,謝謝?。?！