X射線探傷機(jī)原理及優(yōu)缺點(diǎn)介紹
X射線探傷機(jī)原理

所謂射線探傷是利用某種射線來檢查焊縫內(nèi)部缺陷的一種方法。常用的射線有X射線和γ射線兩種。X射線和γ射線能不同程度地透過金屬材料，對(duì)照相膠片產(chǎn)生感光作用。利用這種性能，當(dāng)射線通過被檢查的焊縫時(shí)，因焊縫缺陷對(duì)射線的吸收能力不同，使射線落在膠片上的強(qiáng)度不一樣，膠片感光程度也不一樣，這樣就能準(zhǔn)確、可靠、非破壞性地顯示缺陷的形狀、位置和大小。

X射線透照時(shí)間短、速度快，檢查厚度小于30mm時(shí)，顯示缺陷的靈敏度高，但設(shè)備復(fù)雜、費(fèi)用大，穿透能力比γ射線小。
利用X射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中有衰減的特性來發(fā)現(xiàn)其中缺陷的一種無損探傷方法。
X射線探傷優(yōu)點(diǎn)：
      成像直觀、照相底片可以長期保存，對(duì)薄壁工件探傷靈敏度很高。對(duì)體積狀缺陷敏感，缺陷影象的平面分布真實(shí)、尺寸測(cè)量準(zhǔn)確。對(duì)工件表面光潔度沒有嚴(yán)格要求，材料晶粒度對(duì)檢測(cè)結(jié)果影響不大,可以適用于各種材料內(nèi)部缺陷檢測(cè)。所以在壓力容器焊接質(zhì)量檢驗(yàn)中得到廣泛應(yīng)用。
X射線探傷缺點(diǎn)： 

對(duì)面狀缺陷不敏感，射線對(duì)人體有害，射線源昂貴，防護(hù)成本更高。射線照相法底片評(píng)定周期較長，對(duì)厚壁工件檢測(cè)靈敏度低。

聲明：本文僅供交流學(xué)習(xí)，版權(quán)歸屬原作者，部分文章推送時(shí)未能及時(shí)與原作者取得聯(lián)系，若來源標(biāo)注錯(cuò)誤或侵犯到您的權(quán)益，煩請(qǐng)告知，我們將立即刪除,謝謝?。?！